Zuverlässigkeit von Leiterplatten
Die Leiterplatte ist ein komplexes Konstrukt aus unterschiedlichsten Materialien, hergestellt durch eine Vielzahl von Prozessen und sie wird für unterschiedlichste Anwendungen eingesetzt. Diese Zusammenhänge zu verstehen und die Möglichkeiten der Einflussnahme im Leiterplattendesign kennen zu lernen sind eine Voraussetzung, um zuverlässige Leiterplatten entwickeln und herstellen zu können. Der Prozess umfasst eine saubere Spezifikation der Anforderungen und bedarf der Mitwirkung aller involvierten Disziplinen.
Im Webinar werden folgende Inhalte behandelt:
- Was ist Zuverlässigkeit?
- Lebenszyklus einer Leiterplatte: Von der Spezifikation bis zur Anwendung
- Fehlerbilder und Testmethoden
- Stellschrauben für Zuverlässigkeit
Einführung
Wir laden Sie ein zu einer Einführung in die Anwendung eines modernes Testverfahren für unbestückte Leiterplatten, dem Interconnect Stress Test (IST). Interessant ist das Webinar für Entwickler, Qualitätsverantwortliche, Einkauf und Management. Wir haben jahrelange Erfahrung mit dieser Methode und gewährt Ihnen im Webinar „Zuverlässigkeitsnachweis durch Interconnect Stress Test” interessante Einblicke.
Ohne Sie mit zu viel Physik und Statistik zu verwirren, sprechen wir über diese Themen:
- Anwendungsbereiche des IST
- Vermeidung von Ausfallkosten, Nachweis der Zuverlässigkeit
- Absicherung neuer Technologien durch statistische Auswertung der Messdaten
- Ablauf des Tests von der Planung bis zum Ergebnis
- Chancen für eine schnelle und zielgerichtete Designoptimierung
Zuverlässigkeitsnachweis durch Interconnect Stress Test - Einführung (PDF)
Vertiefung
Nach dem erfolgreichen Einführungswebinar tauchen wir tiefer in die Physik und Statistik des Interconnect Stress Test (IST) ein. Wir vergleichen den IST mit dem bekannten Temperaturwechseltest (TWT) und demonstrieren die Möglichkeiten der statistischen Auswertung.
Folgende Themen werden im Webinar näher beleuchtet:
- Fehlerbilder und deren Ursachen
- Auswertung und Darstellung der Ergebnisse von Zuverlässigkeitstests
- Möglichkeiten der Optimierung
- Einflussfaktoren auf die Zuverlässigkeit von Leiterplatten
Zuverlässigkeitsnachweis durch Interconnect Stress Test - Vertiefung (PDF)