Webinar Zuverlässigkeit von Leiterplatten

Zuverlässigkeit von Leiterplatten (PDF)

Anwendung des Interconnect Stress Test (IST)

Wir laden Sie ein zu einer Einführung in die Anwendung eines modernes Testverfahren für unbestückte Leiterplatten, dem Interconnect Stress Test (IST). Interessant ist das Webinar für Entwickler, Qualitätsverantwortliche, Einkauf und Management. Wir haben jahrelange Erfahrung mit dieser Methode und gewährt Ihnen im Webinar „Zuverlässigkeitsnachweis durch Interconnect Stress Test” interessante Einblicke.

Ohne Sie mit zu viel Physik und Statistik zu verwirren, sprechen wir über diese Themen:

• Anwendungsbereiche des IST
• Vermeidung von Ausfallkosten, Nachweis der Zuverlässigkeit
• Absicherung neuer Technologien durch statistische Auswertung der Messdaten
• Ablauf des Tests von der Planung bis zum Ergebnis
• Chancen für eine schnelle und zielgerichtete Designoptimierung

Zuverlässigkeitsnachweis durch Interconnect Stress Test (PDF)