IC-Hersteller Texas Instruments

IC-Hersteller (104)

Texas Instruments LMKDB1104 | Demoboard LMKDB1104EVM

LMKDB1104 Evaluation Module

Details

TopologieFPGA
Eingangsspannung1.8-3.3 V
IC-RevisionA

Beschreibung

The LMKDB1104 Evaluation Module (EVM) is designed to provide a quick setup to evaluate the LMKDB1104 LP-HCSL buffer that supports PCIe Gen 1 to Gen 6 and is DB2000QL compliant. The printed circuit board (PCB) contains several jumpers and a USB connection to enable the LMKDB1104 with desired user programming and setup. The evaluation module provides flexibility for compliance testing, system prototyping and performance evaluation of the LMKDB1104 device.

Eigenschaften

PCIe Gen 1 to Gen 6 and DB2000QL compliant bufferExternal and USB power supply optionsProgrammability through TICS Pro Software GUIOn-board input/output expander for output enable/disable through pin controls

Typische Anwendungen

Weiterführende Informationen

Artikeldaten

Artikel Nr. Daten­blatt Simu­lation Downloads Status ProduktserieAnwendungInterface typAusführungGenderPins
(pcs)
MontageartIR 1
(mA)
Arbeitsspannung
(V (AC))
VerpackungRaster
(mm)
ReihenH
(mm)
IR
(A)
Z @ 100 MHz
(Ω)
Zmax
(Ω)
Testbedingung ZmaxIR 2
(mA)
RDC max.
(Ω)
Typ Muster
65100516121SPEC
6 Dateien Aktiv i| Produktion ist aktiv. Erwartete Lebenszeit: >10 Jahre.WR-USB Mini/Micro Connectors Mini USB 2.0 Type B Mit Pads & Pegs Buchse 5 SMT 30 Tape and Reel & Mylar 1 Horizontal
742792037SPEC
9 Dateien Aktiv i| Produktion ist aktiv. Erwartete Lebenszeit: >10 Jahre.WE-CBF SMT-Ferrit SMT 2000 0.9 1.5 330 375 250 MHz 2000 0.08 Hochstrom
61300511121SPEC
7 Dateien Aktiv i| Produktion ist aktiv. Erwartete Lebenszeit: >10 Jahre.WR-PHD Pin Header - Single Stiftleiste 5 THT 250 Beutel 2.54 Single 3 Gerade
Artikel Nr. Daten­blatt Simu­lation
65100516121SPEC
742792037SPEC
61300511121SPEC
Muster
Artikel Nr. Daten­blatt Simu­lation Downloads Status ProduktserieAnwendungInterface typAusführungGenderPins
(pcs)
MontageartIR 1
(mA)
Arbeitsspannung
(V (AC))
VerpackungRaster
(mm)
ReihenH
(mm)
IR
(A)
Z @ 100 MHz
(Ω)
Zmax
(Ω)
Testbedingung ZmaxIR 2
(mA)
RDC max.
(Ω)
Typ Muster