In diesem Einführungs-Webinar erfahren Sie alles Wissenswerte rund um die Anwendung eines modernes Testverfahrens für unbestückte Leiterplatten – dem Interconnect Stress Test (IST).
Mit unserer jahrelangen Erfahrung gewähren wir Ihnen interessante Einblicke in dieses Testverfahren, egal ob Sie als Entwickler, Qualitätsverantwortlicher, im Einkauf oder Management tätig sind.
Ohne Sie mit zu viel Physik und Statistik zu verwirren, sprechen wir über diese Themen:
